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功率器件
功率晶体管测试座 C001系列
C001系列 Bus Bar型
在功率半导体产业中，近年来，使用SiC作为材料，非常活跃地针对那些具有高耐电压和大电流的产品
进行开发设计、但是，现在还没有能满足这个规格的测试座。
SDK可以生产满足这个规格，就算在高温情况下也可以使用。
C001系列是以TO封装为对象的测试座
根据耐热温度的不同，可以将树脂和接触端进行不同的组合。
树脂我们会用PEEK和PPS，接触端我们会用不锈钢/BeCu铍铜。
引线端子形状有两种类型，板装型（DIP）和Bus Bar连接型。
会提案最适合环境的治具。
可以对应高温高湿度偏差试验
例：1200V/max 漏电 100mA以下
规格
| 规格概要 | |
|---|---|
| 适用PKG | TO-220, TO-3P, TO247 |
| 插拔次数 | 10,000回（根据本公司所进行的实验 ） |
| 接触电阻 | 20mΩ以下（初期値） |
| 额定电流 | 30A MAX(25℃) |
| 绝缘电阻 | 500MΩ以上 |
| 耐电压 | DC 5KV MAX (200℃) |
| 使用温度范围 | -55℃～+220℃ |
功率器件用测试座
功率器件用，例如IGBT、功率晶体管、电流传感器等且能够对应使用大电流的测试座。
从今往后对于大电流的需求在不断增长，我们也会着力在电力电子领域。
为了提高器件的散热性，可以选择夹住的固定方式或螺丝固定方式等各种各样的客制化设计。
通过用小电阻的材料，可以对应100A以上的大电流。
我们也可以根据您的需要来进行测试治具设计的提案。
